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測(cè)威科技目標(biāo)散射特性處理應(yīng)用軟件中的【黑科技】

智能評(píng)估分析軟件智能評(píng)估分析軟件

實(shí)現(xiàn)評(píng)估散射缺陷對(duì)隱身性能的影響，具備散射缺陷識(shí)別與定位，評(píng)估維修前和維修后整體或局部低散性能，對(duì)目標(biāo)表面材料、關(guān)鍵核心區(qū)域隱身測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行集成分析處理，將測(cè)試結(jié)果采用分級(jí)（表面材料、局部區(qū)域，整機(jī)等）比對(duì)評(píng)估準(zhǔn)則在關(guān)鍵維度（頻率、角度、極化、空間區(qū)域等）上與裝備隱身特性基準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)統(tǒng)計(jì)分析，綜合運(yùn)用散射熱點(diǎn)診斷分析、圖像匹配溯源分析、RCS重構(gòu)參數(shù)統(tǒng)計(jì)分析等評(píng)估比對(duì)方法，依據(jù)評(píng)估結(jié)果給出綜合結(jié)論，為先進(jìn)武器裝備研究開(kāi)展科學(xué)有效的隱身設(shè)計(jì)和分析評(píng)估。目前在復(fù)雜的測(cè)試環(huán)境中，各種干擾和噪聲可能會(huì)對(duì)目標(biāo)電磁圖像的變化精確辨識(shí)帶來(lái)嚴(yán)重影響。為了提高辨識(shí)精度，我們采用深度學(xué)習(xí)技術(shù)對(duì)二維圖像進(jìn)行比對(duì)。基于深度學(xué)習(xí)的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)（CNN）方法聯(lián)合散射特征點(diǎn)和圖像特征點(diǎn)的自適應(yīng)配準(zhǔn)算法，實(shí)現(xiàn)深度學(xué)習(xí)的判別評(píng)估，這一方法不僅提高了辨識(shí)的精度和魯棒性，還增強(qiáng)了系統(tǒng)在處理復(fù)雜場(chǎng)景時(shí)的可靠性。

產(chǎn)品特點(diǎn)國(guó)產(chǎn)化平臺(tái)，減少對(duì)外部技術(shù)的依賴，確保了技術(shù)的自主可控性；采用SIFT等特征點(diǎn)配準(zhǔn)算法，實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)之間的空域?qū)R；基于深度小波卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，實(shí)現(xiàn)噪聲背景下的散射特性智能變化檢測(cè)；自動(dòng)標(biāo)注和顯示隱身前后主要散射中心的變化和差異；軟件系統(tǒng)架構(gòu)1.評(píng)估模塊化、降低依賴關(guān)系；2.自主搭建流程、耦合性高；3.組件式架構(gòu)、重用性高。數(shù)據(jù)機(jī)構(gòu)（國(guó)產(chǎn)化）1.自主可控、安全性高；2.易于擴(kuò)展和迭代；3.支持多種數(shù)據(jù)格式。

技術(shù)支持

公司提供專業(yè)的微波測(cè)量技術(shù)咨詢、技術(shù)支持、測(cè)試技能培訓(xùn)、軟件測(cè)量與處理培訓(xùn)，以及散射特性測(cè)試原理培訓(xùn)服務(wù)。涵蓋車載雷達(dá)測(cè)量系統(tǒng)、岸基雷達(dá)測(cè)量系統(tǒng)、無(wú)人機(jī)雷達(dá)測(cè)量系統(tǒng)以及緊縮場(chǎng)等室內(nèi)雷達(dá)測(cè)量系統(tǒng)。